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Semiconductor discrete device 半導體分立器件試驗設備 Passive component test equipment 被動元件試驗設備 Monitoring system 設備集中監視系統 Internet of things platform 物聯網平臺 test equipment 試驗設備

半導體分立器件試驗設備

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存儲器高溫動態老化測試系統

系統適用于各種封裝形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件進行高溫動態老化篩選，并且在老化過程中對被試驗器件(DUT)進行功能測試(TDBI)。

三端穩壓器老化系統

系統能滿足各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可調三端穩壓器老化篩選和壽命試驗。

穩壓管 SSOP 試驗系統

系統適用于各種封裝的穩壓管（Zener）進行穩態運行功率（SSOP）試驗。

大功率晶體管老化系統

適用于F型、TO-3P/TO220、G型封裝的大功率三極管、MOS管等進行功率老化試驗。

電源模塊高溫老化試驗系統

適用于各種中小功率單路、多路正負輸出的DC/DC、AC/DC電源模塊進行高溫恒流老化試驗。

鉭電容器高溫老化系統

適用于各種封裝形式的鉭電容器、電解電容器、獨石電容器、云母電容器、陶瓷電容器、紙介電容器、薄膜電容器和金屬化紙介電容器（包括SMT表面貼裝）等器件的工作壽命試驗和高溫老煉篩選。

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