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Semiconductor discrete device 半導體分立器件試驗設備 Passive component test equipment 被動元件試驗設備 Monitoring system 設備集中監視系統 Internet of things platform 物聯網平臺 test equipment 試驗設備

半導體分立器件試驗設備

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高溫反偏試驗系統

系統能滿足各種封裝形式的二極管、三極管、半橋、場效應管、可控硅、IGBT等系列器件在高溫高濕環境下進行反向偏壓試驗。

集成電路高溫動態老化系統

適用于各種封裝形式的大、中、小規模數字、模擬、數模混合集成電路，包括微處理器、邏輯電路、可編程器件、存儲器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗和高溫動態老煉篩選。

間歇壽命試驗系統

適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器件的間歇壽命試驗和穩態壽命試驗。

高溫高濕反偏試驗系統

系統能滿足各種封裝形式的二極管、三極管、半橋、場效應管、可控硅、IGBT等系列器件在高溫高濕環境下進行反向偏壓試驗。

高溫柵偏實驗系統

系統能滿足各種封裝形式的MOSFET、IGBT等器件的高溫柵偏試驗。

IGBT功率循環

適用于各種封裝的IGBT模塊進行K系數測試、穩態熱阻測試及功率循環試驗。

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